Carl Zeiss stellt Erweiterung der FE-REM-Serie MERLIN vor

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Oberkochen (pressrelations) - Carl Zeiss stellt Erweiterung der FE-REM-Serie MERLIN vor


JENA, PHOENIX/Arizona/USA, 30.07.2012.
Auf der Konferenz Microscopy Microanalysis 2012 in Phoenix, Arizona (USA) stellt Carl Zeiss Microscopy eine Erweiterung der MERLIN Platt- form für die Feldemissions-Rasterelektronen- mikroskopie (FE-REM) vor. Der Kunde kann nun zwischen den Systemen MERLIN Compact, MERLIN VP Compact und MERLIN wählen und diese individuell konfigurieren. Mit der Plug-and-Play-Funktion ergänzt und tauscht er Detektoren mühelos, um Aufgaben von der einfachen Bild- aufnahme bis hin zu umfangreichen Material- analysen zu bewältigen. Dank des großen Bild- feldspeichers von 32k x 24k Pixel lassen sich sehr große Bereiche abbilden. Zu den Neuheiten zählen die In-situ-3D-Oberflächenrekonstruktion, die aus 2D-Daten 3D-Daten berechnet. Der neue in-lens Duo Detektor liefert gleichzeitig hohe Auf- lösungen und umfangreiche Materialinformatio- nen. MERLIN VP Compact stellt auch nicht leitende Proben ohne Beschichtung in hoher Auflösung dar.

Zwei spezifische Technologien erweitern den Einsatzbereich der MERLIN Plattform. Durch die Integration eines Ultramikrotoms direkt in die Vakuumkammer ist serielles Blockface Imaging von eingebetteten Proben ? wie Zellen oder Gewebe ? möglich. Biologische Proben lassen sich dreidimensional in Bildgrößen im Voxel- bereich abbilden. Ein in die Vakuumkammer integriertes Rasterkraftmikroskop (AFM) kann Proben in atomarer Auflösung darstellen.

Michael Schweitzer, verantwortlich für die FE-REM Produktlinie bei Carl Zeiss, fasst zusammen: "Seit der Einführung des Feldemissions-Rasterelektro- nenmikroskops MERLIN im Jahr 2010 haben wir ein überwältigend positives Kundenfeedback er- halten. Mit dieser Erweiterung bieten wir unseren Kunden nun die Technologie, mit der sie ihr Sys- tem noch besser und gezielter auf die heutigen Anforderungen der Forschung ausrichten können. Der Anwender kann das System jederzeit weiter ausbauen, um es wechselnden Erfordernissen anzupassen. Am spannendsten für mich ist jedoch die Möglichkeit, entweder ein Rasterkraft- mikroskop für atomare Auflösungen oder ein Ultramikrotom für serielles Blockface Imaging in die Vakuumkammer zu integrieren."


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